硅和锗体内少数载流子寿命测定仪-盛达森-建筑节能检测设备_傅里叶变换红外光谱仪

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硅和锗体内少数载流子寿命测定仪: 产品型号：; 产品产地：深圳; 发布日期：2010.5.4; 浏览次数：999次; 咨询电话：0755-27831486; 关键词：硅和锗体内少数载流子寿命测定仪; 分享到： QQ空间新浪微博腾讯微博更多; 下一个产品上一个产品

详细介绍

硅和锗体内少数载流子寿命测定仪.jpg

硅和锗体内少数载流子寿命测定仪

少数载流子迁移率（μ）：0.5～5000c㎡/V·s

表观寿命（τF)：0.1～5000μS